Номери
- Заявка
- m201811666
- Реєстрація
- 276632
- Класи МКТП
- 9
Торговельна марка · УКРНОІВІ
Торговельна марка «e»: заявка m201811666 від 17.05.2018, клас МКТП 9; заявник: СІГМА КОКІ КО., ЛТД. (SIGMA KOKI CO., LTD.); статус у реєстрі: статус не вказано.
Перевірте статус, класи та інші активні або схожі торговельні марки перед рішенням.
Тип знака: комбінованийДжерело й актуальність
Картка відтворює опубліковані реєстрові відомості. IPscan показує дату останньої перевірки, але не підміняє офіційний реєстр.
Для юридично значущої дії звірте статус і реквізити з первинним джерелом на дату подання.
Наступний крок
Повторіть перевірку назви, збережіть результат у кабінеті або перегляньте пропозиції marketplace. Розширені дії відкриваються після входу.
Повний маршрут
Перейдіть до потрібного кроку без повторного введення даних.
За датами з реєстру
Події з підтвердженими датами. Це не повна історія листування чи платежів.
Дати цих статусів джерелом не підтверджені; час імпорту не є датою події.
заявник · JP
Сімотакахагі-сінден, Хідакі-сі, Саітама 350-1297, Японія (Shimotakahagi-shinden, Hidaka-shi, Saitama 350-1297, Japan)
власник · JP
Сімотакахагі-сінден, Хідакі-сі, Саітама 350-1297, Японія (Shimotakahagi-shinden, Hidaka-shi, Saitama 350-1297, Japan)

Оптичні лінзи; оптичні дзеркала; призми для змінювання напрямку лазерного випромінювання внаслідок заломлення; оптичні світлоділильні пластинки; оптичні вікна для передавання лазерних променів; оптичні вироби, а саме оптичні підкладинки зі скла для використання з оптичними інструментами для проходження світла крізь внутрішню частину перегородки або внутрішню частину вакуумної камери; поляризатори, які складаються з кальцитових призм, двоколірних листових фільтрів і кварцових хвильових пластинок, для змінювання стану, виду поляризації або вибірково передавання світла зі специфічною поляризацією; оптичні фільтри для передавання або відбивання конкретних довжин хвиль; електронні апарати для виявляння світла; оптичні волокна для передавання лазерних променів; електронні апарати, що використовуються для модуляції світлових сигналів; оптоелектронні апарати, що включають лазерні випромінювачі і лампу (в одному апараті), що використовуються для виявляння і регулювання світла, крім призначених на медичні потреби; апарати для вимірювання спектральної відбивальної здатності; апарати для вимірювання кривизни поверхні; апарати для вимірювання лазерного променю; оптоелектронні фокусувальні апарати для регулювання фокусу об'єктиву на площині поверхні предмета з використанням комп'ютерного програмного забезпечення для пристроїв позиціонування; оптичні мікроскопи, що використовуються у промисловій та науковій сферах; пристрої зі збільшеним дисплеєм, оснащені камерами для кольорового знімання, фотографування з підвищеною щільністю пікселів та лінзами, для записування і/або відтворювання зображень і/або звуку; оптичні затвори, що використовуються для пропускання і зупинки лазерних променів; лазерні сканери, крім призначених на медичні потреби; захисні окуляри від лазерного випромінювання; апарати та інструменти для передавання, перемикання, перетворювання, акумулювання, регулювання або контролювання електрики; програмне забезпечення для позиціонування та вимірювання; мікрометричні головки; електронні оптичні атенюатори; лазери, крім призначених на медичні потреби; оптомеханічні деталі до вищезазначених приладів (пристроїв) та апаратів,; а саме: кріпильні тримачі для оптичних лінз,; кріпильні тримачі для оптичних дзеркал,; кріпильні позиціонери для оптичних лінз,; кріпильні позиціонери для оптичних дзеркал,; лінійні предметні столики з ручним керуванням для переміщування оптичних елементів,; обертові предметні столики з ручним керуванням для переміщування оптичних елементів,; лінійні предметні столики з функцією автоматичного позиціонування з системою електронного та дистанційного керування,; обертові предметні столики з функцією автоматичного позиціонування з системою електронного та дистанційного керування,; оптичні пінхоли для досліджування лазерної дифракції,; оптичні пінхоли для регулювання мікроскопічного збільшення,; оптичні щілини для досліджування лазерної дифракції,; оптичні щілини для регулювання мікроскопічного збільшення,; ірисові діафрагми для досліджування лазерної дифракції,; ірисові діафрагми для регулювання мікроскопічного збільшення,; оптичні інтерферометри для електронних апаратів,; що використовуються для спостереження точності площини поверхні
Ця картка не є юридичним висновком. Для рішення про реєстрацію або використання бренду потрібна перевірка спеціалістом.
Добірка карток із нашого каталогу. Натисніть на назву, щоб побачити статус, класи, історію та посилання на офіційне джерело.
Добірка змінюється щодня; це не рейтинг і не рекомендація до реєстрації. Переглянути весь каталог ТМ.