Назад до пошуку

УКРНОІВІ

e

Торговельна марка «e»: заявка m201811666 від 17.05.2018, клас МКТП 9; заявник: СІГМА КОКІ КО., ЛТД. (SIGMA KOKI CO., LTD.); статус у реєстрі: статус не вказано.

Статус записустатус не вказано

Перевірте статус, класи та інші активні або схожі торговельні марки перед рішенням.

Тип знака: комбінований

Номери

Заявка
m201811666
Реєстрація
276632
Класи МКТП
9

Дати

Подання
17.05.2018
Реєстрація
10.06.2020
Оновлено в IPscan
19.06.2026

Джерело

Країна
UA
Офіс
УКРНОІВІ
Посилання
не вказано

Наступний крок

Продовжити роботу з цією ТМ

Повторіть перевірку назви, збережіть результат у кабінеті або перегляньте пропозиції marketplace. Розширені дії відкриваються після входу.

Власники та заявники

СІГМА КОКІ КО., ЛТД. (SIGMA KOKI CO., LTD.)

заявник · JP

Сімотакахагі-сінден, Хідакі-сі, Саітама 350-1297, Японія (Shimotakahagi-shinden, Hidaka-shi, Saitama 350-1297, Japan)

СІГМА КОКІ КО., ЛТД. (SIGMA KOKI CO., LTD.)

власник · JP

Сімотакахагі-сінден, Хідакі-сі, Саітама 350-1297, Японія (Shimotakahagi-shinden, Hidaka-shi, Saitama 350-1297, Japan)

Лого та зображення

Товари та послуги

Клас 91 описів

Опис UK

Оптичні лінзи; оптичні дзеркала; призми для змінювання напрямку лазерного випромінювання внаслідок заломлення; оптичні світлоділильні пластинки; оптичні вікна для передавання лазерних променів; оптичні вироби, а саме оптичні підкладинки зі скла для використання з оптичними інструментами для проходження світла крізь внутрішню частину перегородки або внутрішню частину вакуумної камери; поляризатори, які складаються з кальцитових призм, двоколірних листових фільтрів і кварцових хвильових пластинок, для змінювання стану, виду поляризації або вибірково передавання світла зі специфічною поляризацією; оптичні фільтри для передавання або відбивання конкретних довжин хвиль; електронні апарати для виявляння світла; оптичні волокна для передавання лазерних променів; електронні апарати, що використовуються для модуляції світлових сигналів; оптоелектронні апарати, що включають лазерні випромінювачі і лампу (в одному апараті), що використовуються для виявляння і регулювання світла, крім призначених на медичні потреби; апарати для вимірювання спектральної відбивальної здатності; апарати для вимірювання кривизни поверхні; апарати для вимірювання лазерного променю; оптоелектронні фокусувальні апарати для регулювання фокусу об'єктиву на площині поверхні предмета з використанням комп'ютерного програмного забезпечення для пристроїв позиціонування; оптичні мікроскопи, що використовуються у промисловій та науковій сферах; пристрої зі збільшеним дисплеєм, оснащені камерами для кольорового знімання, фотографування з підвищеною щільністю пікселів та лінзами, для записування і/або відтворювання зображень і/або звуку; оптичні затвори, що використовуються для пропускання і зупинки лазерних променів; лазерні сканери, крім призначених на медичні потреби; захисні окуляри від лазерного випромінювання; апарати та інструменти для передавання, перемикання, перетворювання, акумулювання, регулювання або контролювання електрики; програмне забезпечення для позиціонування та вимірювання; мікрометричні головки; електронні оптичні атенюатори; лазери, крім призначених на медичні потреби; оптомеханічні деталі до вищезазначених приладів (пристроїв) та апаратів,; а саме: кріпильні тримачі для оптичних лінз,; кріпильні тримачі для оптичних дзеркал,; кріпильні позиціонери для оптичних лінз,; кріпильні позиціонери для оптичних дзеркал,; лінійні предметні столики з ручним керуванням для переміщування оптичних елементів,; обертові предметні столики з ручним керуванням для переміщування оптичних елементів,; лінійні предметні столики з функцією автоматичного позиціонування з системою електронного та дистанційного керування,; обертові предметні столики з функцією автоматичного позиціонування з системою електронного та дистанційного керування,; оптичні пінхоли для досліджування лазерної дифракції,; оптичні пінхоли для регулювання мікроскопічного збільшення,; оптичні щілини для досліджування лазерної дифракції,; оптичні щілини для регулювання мікроскопічного збільшення,; ірисові діафрагми для досліджування лазерної дифракції,; ірисові діафрагми для регулювання мікроскопічного збільшення,; оптичні інтерферометри для електронних апаратів,; що використовуються для спостереження точності площини поверхні

Ця картка не є юридичним висновком. Для рішення про реєстрацію або використання бренду потрібна перевірка спеціалістом.

e - ТМ m201811666 - клас МКТП 9 | IPscan